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MP-40顯微薄膜測試儀

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顯微薄膜測厚儀
特點

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化   

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